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ParcanNano 高速原子力顯微鏡AFM系統(德國Nano analytik)
簡介:
公司以全球****的針尖技術為核心競爭力,技術源自于德國伊爾默瑙工業大學,致力于主動式針尖技術在微納米結構制備和表征方面的研發,及其相關設備的產業化。
NanoMETRONOM是公司開發的一款顛覆性的新型AFM系統。它使用主動式智能針尖,集傳感器、驅動器和可功能化的針尖于一身,實現自激發和自傳感,無需復雜的激光校準,是取代現有AFM激光傳感的巨大改進。該系統可在大氣、液態及真空環境下實現對微納米結構的高速、高效表征,成像精度達到0.2納米的極限精度。
產品擁有像美國麻省理工學院、加州伯克利國家實驗室、荷蘭德爾夫特大學和清華大學等國內外知名科研客戶,以及韓國三星、荷蘭ASML等高端工業客戶。
產品特點:
? 大氣、真空及液態環境兼容
? 自激發自傳感智能針尖
? 快速自動進針 無需激光調節
? 操作極其便捷 5秒快速換針
? 超高速掃描成像(100 lines/s)
? 實時光學顯微鏡定位掃描區域
應用領域:
? 多領域表面分析
? 工業領域快速抽檢
? 晶圓片表面質量監控
? 弱機械力檢測
? 質量傳感器
? 生化檢測識別